A possibility is shown to use GaN/Al2O3 substrates with internal voids fabricated
with metal-organic chemical vapor deposition (MOCVD) for the growth of light-emitting
structures based on p-n junctions by hydride vapor-phase epitaxy (HVPE). Within the frames
of the work, an extensive characterization of the grown HVPE films with n- and p-type
conductivity and formed p-n junctions was performed. The results obtained show possibilities
that HVPE method offers in respect to the fabrication of the elements of device structures
based on GaN.
Keywords: light-emitting р-n structures; hydride vapor-phase epitaxy; GaN/Al2O3 substrates with internal voids |
full paper (pdf, 1664 Kb)
Показана возможность использования подложек GaN/Al2O3 с внутренними
полостями, сформированных газофазной эпитаксией с использованием
металлорганических соединений (ГФЭ МОС), для выращивания методом хлорид.
гидридной эпитаксии (ХГЭ) светоизлучающих структур на основе р-n переходов. В
рамках работы выполнена всесторонняя характеризация выращенных эпитаксиальных
слоев ХГЭ n- и p-типа проводимости и сформировавшихся электронно-дырочных
переходов. Полученные результаты демонстрируют возможности метода ХГЭ в части
создания элементов приборных структур на основе GaN.
Ключевые слова: светоизлучающие р-n структуры; хлорид-гидридная эпитаксия; подложки GaN/Al2O3 с внутренними полостями |
full paper (pdf, 1664 Kb)