ipmash@ipme.ru | +7 (812) 321-47-78
пн-пт 10.00-17.00
Институт Проблем Машиноведения РАН ( ИПМаш РАН ) Институт Проблем Машиноведения РАН ( ИПМаш РАН )

МИНОБРНАУКИ РОССИИ
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем машиноведения Российской академии наук

МИНОБРНАУКИ РОССИИ
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем машиноведения Российской академии наук

Structural and optical properties of high quality ZnO thin film on Si with SiC buffer layer

Год(ы):
2012
Авторы:
д.ф.м.н. Осипов А.В. , д.ф.м.н. Кукушкин С.А. , Feoktistov N.A. , Osipova A. , Venugopal N. , Verma G.D. , Gupta B.K. , Mitra A. ,
Название издания:
Thin Solid Films
Том издания:
520
Выпуск издания:
23
Страницы издания:
6836 - 6840
Используя этот сайт, вы соглашаетесь с тем, что мы используем файлы cookie.