Electrical contact resistance and dynamic contact stiffness for a cluster of microcontacts: Cross-property connection in the low-frequency range
Год(ы):
2012
Авторы:
Argatov I.I. , д.ф.м.н. Петров Ю.В. ,
Название издания:
Philosophical Magazine
Том издания:
92
Выпуск издания:
14
Страницы издания:
1764 - 1776
ДОИ (doi):