SR phase contrast imaging to address the evolution of defects during SiC growth
Год(ы):
2011
Авторы:
Argunova T.S. , д.ф.м.н. Гуткин М.Ю. , Je J.H. , Mokhov E.N. , Nagalyuk S.S. , Hwu Y. ,
Название издания:
Physica Status Solidi (A) Applications and Materials Science
Том издания:
208
Выпуск издания:
4
Страницы издания:
819 - 824
ДОИ (doi):