Micro-raman mapping of 3C-SiC thin films grown by solid-gas phase epitaxy on Si (111)
Год(ы):
2010
Авторы:
Perova T.S. , Wasyluk J. , д.ф.м.н. Кукушкин С.А. , д.ф.м.н. Осипов А.В. , Feoktistov N.A. , Grudinkin S.A. ,
Название издания:
Nanoscale Research Letters
Том издания:
5
Выпуск издания:
9
Страницы издания:
1507 - 1511
ДОИ (doi):