A mechanical model of the contact interaction between the atomic force microscope measuring element and a surface under investigation
Год(ы):
2009
Авторы:
Goldstein R.V. , Gorodtsov V.A. , Ustinov K.B. ,
Название издания:
Nanotechnologies in Russia
Том издания:
4
Выпуск издания:
7-8
Страницы издания:
525 - 529
ДОИ (doi):