Pendeo-epitaxy of stress-free AlN layer on a profiled SiC/Si substrate
Год(ы):
2016
Авторы:
к.ф.м.н. Редьков А.В. , д.ф.м.н. Кукушкин С.А. , д.ф.м.н. Бессонов Н.М. , д.ф.м.н. Осипов А.В. , D.V. Karpov, E.V. Konenkova, A.А. Lipovskii, I.P. Soshnikov
Квартиль:
Q1
Название издания:
Thin Solid Films
Выпуск издания:
606
Страницы издания:
74-79
ДОИ (doi):