Electron-microscopic investigation of a SiC/Si(111) structure obtained by solid phase epitaxy
Год(ы):
2008
Авторы:
Sorokin L.M. , Veselov N.V. , Shcheglov M.P. , Kalmykov A.E. , Sitnikova A.A. , Feoktistov N.A. , д.ф.м.н. Осипов А.В. , д.ф.м.н. Кукушкин С.А. ,
Название издания:
Technical Physics Letters
Том издания:
34
Выпуск издания:
11
Страницы издания:
992 - 994
ДОИ (doi):