Thin-film PZT/SiC structure on silicon substrate: Formation, structural features, and dielectric properties
Год(ы):
2008
Авторы:
Pronin I.P. , Kaptelov E.Yu. , Senkevich S.V. , Klimov V.A. , Feoktistov N.A. , д.ф.м.н. Осипов А.В. , д.ф.м.н. Кукушкин С.А. ,
Название издания:
Technical Physics Letters
Том издания:
34
Выпуск издания:
10
Страницы издания:
838 - 840
ДОИ (doi):