Microstructure and strength of AlN-SiC interface studied by synchrotron X-rays
Год(ы):
2017
Авторы:
д.ф.м.н. Гуткин М.Ю. , T.S. Argunova, K.D. Shcherbachev, J.H. Je, O.P. Kazarova, E.N. Mokhov
Квартиль:
Q1
Название издания:
J. Mater. Sci.
Выпуск издания:
52(8)
Страницы издания:
4244-4252
ДОИ (doi):