TEM investigation of semipolar GaN layers grown on Si(001) offcut substrates
Год(ы):
2015
Авторы:
Sorokin L.M. , Myasoedov A.V. , Kalmykov A.E. , Kirilenko D.A. , Bessolov V.N. , д.ф.м.н. Кукушкин С.А. ,
Название издания:
Semiconductor Science and Technology
Том издания:
30
Выпуск издания:
11 / 114002