ipmash@ipme.ru | +7 (812) 321-47-78
пн-пт 10.00-17.00
Институт Проблем Машиноведения РАН ( ИПМаш РАН ) Институт Проблем Машиноведения РАН ( ИПМаш РАН )

МИНОБРНАУКИ РОССИИ
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем машиноведения Российской академии наук

МИНОБРНАУКИ РОССИИ
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем машиноведения Российской академии наук

Study of SiC buffer layer thickness influence on photovoltaic properties of n-GaN NWs/SiC/p-Si heterostructure

Год(ы):
2019
Авторы:
Shugurov K.Y. , Reznik R.R. , Mozharov A.M. , Kotlyar K.P. , Koval O.Y. , д.ф.м.н. Осипов А.В. , Fedorov V.V. , Shtrom I.V. , Bolshakov A.D. , д.ф.м.н. Кукушкин С.А. , Mukhin I.S. , Cirlin G.E. ,
Название издания:
Materials Science in Semiconductor Processing
Том издания:
90
Страницы издания:
20 - 25
Используя этот сайт, вы соглашаетесь с тем, что мы используем файлы cookie.