ipmash@ipme.ru | +7 (812) 321-47-78
пн-пт 10.00-17.00
Институт Проблем Машиноведения РАН ( ИПМаш РАН ) Институт Проблем Машиноведения РАН ( ИПМаш РАН )

МИНОБРНАУКИ РОССИИ
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем машиноведения Российской академии наук

МИНОБРНАУКИ РОССИИ
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем машиноведения Российской академии наук

New Semipolar Aluminum Nitride Thin Films: Growth Mechanisms, Structure, Dielectric and Pyroelectric Properties

Год(ы):
2019
Авторы:
Sergeeva O.N. , Solnyshkin A.V. , д.ф.м.н. Кукушкин С.А. , д.ф.м.н. Осипов А.В. , к.ф.м.н. Шарофидинов Ш.Ш. , Kaptelov E.Y. , Senkevich S.V. , Pronin I.P. ,
Название издания:
Ferroelectrics
Том издания:
544
Выпуск издания:
1
Страницы издания:
33 - 37
Используя этот сайт, вы соглашаетесь с тем, что мы используем файлы cookie.