Microstructure and strength of AlN–SiC interface studied by synchrotron X-rays
Год(ы):
2017
Авторы:
Argunova T.S. , д.ф.м.н. Гуткин М.Ю. , Shcherbachev K.D. , Je J.H. , Lim J.-H. , Kazarova O.P. , Mokhov E.N. ,
Название издания:
Journal of Materials Science
Том издания:
52
Выпуск издания:
8
Страницы издания:
4244 - 4252
ДОИ (doi):