ipmash@ipme.ru | +7 (812) 321-47-78
пн-пт 10.00-17.00
Институт Проблем Машиноведения РАН ( ИПМаш РАН ) Институт Проблем Машиноведения РАН ( ИПМаш РАН )

МИНОБРНАУКИ РОССИИ
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем машиноведения Российской академии наук

МИНОБРНАУКИ РОССИИ
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
Институт проблем машиноведения Российской академии наук

Experimental and Theoretical Studies of Cu-Sn Intermetallic Phase Growth During High-Temperature Storage of Eutectic SnAg Interconnects

Год(ы):
2020
Авторы:
Morozov A. , д.ф.м.н. Фрейдин А.Б. , Klinkov V.A. , Semencha A.V. , Müller W.H. , Hauck T. ,
Название издания:
Journal of Electronic Materials
Том издания:
49
Выпуск издания:
12
Страницы издания:
7194 - 7210
Используя этот сайт, вы соглашаетесь с тем, что мы используем файлы cookie.