Investigation of the Hardness and Young’s Modulus in Thin Near-Surface Layers of Silicon Carbide from the Si- and C-Faces by Nanoindentation
Год(ы):
2020
Авторы:
д.ф.м.н. Осипов А.В. , к.ф.м.н. Гращенко А.С. , Gorlyak A.N. , Lebedev A.O. , Luchinin V.V. , Markov A.V. , Panov M.F. , д.ф.м.н. Кукушкин С.А. ,
Название издания:
Technical Physics Letters
Том издания:
46
Выпуск издания:
8
Страницы издания:
763 - 766
ДОИ (doi):