X-ray imaging and TEM study of micropipes related to their propagation through porous SiC layer/SiC epilayer interface
Год(ы):
2004
Авторы:
Argunova T.S. , д.ф.м.н. Гуткин М.Ю. , Je J.H. , Sorokin L.M. , Mosina G.N. , Savkina N.S. , Shuman V.B. , Lebedev A.A. ,
Название издания:
Materials Science Forum
Том издания:
457-460
Выпуск издания:
I
Страницы издания:
363 - 366